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| >>光學儀器的環(huán)境試驗方法不止于高低溫試驗箱 |
| 光學儀器的環(huán)境試驗方法不止于高低溫試驗箱 |
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| 時間：2018/7/12 10:35:42 |
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GB/T 12085系列標準的環(huán)境試驗方法，是專門為光學和光學儀器而準備的，共由16部分組成，其中第2部分就提到了低溫、高溫，所以高低溫試驗箱是“勢在必行”了。當然除了這款雅士林儀器所生產(chǎn)的試驗箱外，還有濕熱試驗，第4部分的鹽霧試驗，第5部分的低溫、低氣壓綜合試驗，第6部分的砂塵試驗，第7部分的滴水、淋雨試驗，還有第8部分的高壓、低壓、浸沒試驗，第9部分的太陽輻射試驗，第10部分和第11部分的振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗、長霉試驗，以及其他部分雅士林儀器并不生產(chǎn)的力學設(shè)備，如振動、沖擊、碰撞、跌落、彈跳等。
系列標準號如下：
GB/T 12085.1-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍；
GB/T 12085.2-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱；
GB/T 12085.3-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力；
GB/T 12085.4-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分：鹽霧；
GB/T 12085.5-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗；
GB/T 12085.6-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵
GB/T 12085.7-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第7部分：滴水、淋雨
GB/T 12085.8-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第8部分：高壓、低壓、浸沒
GB/T 12085.9-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第9部分：太陽輻身；
GB/T 12085.10-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗；
GB/T 12085.11-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉；
GB/T 12085.12-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第12部分：污染；
GB/T 12085.13-2010 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗；
GB/T 12085.14-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第14部分：露、霜、冰；
GB/T 12085.15-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗；
GB/T 12085.16-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗；
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